X射線發射光譜儀（XEScope）產品概述

XEScope是一款專業的化學態和電子軌道分析利器，專注于材料近表面中元素的價態和軌道結構解析。憑借超高靈敏度與智能化的操作流程，它將成為能源材料、催化科學、環境化學等領域研究者值得信賴的表征工具。

Na2S2O3的S Kα光譜中反應了S元素是由-2價和+6價以1：1的比例存在，直觀體現精準的價態分辨能力

核心優勢

1.超高靈敏度：可檢測低至0.1 wt%的成分，適用于痕量元素分析；

2.元素范圍廣：可以實現Al~U元素的超廣元素分析能力；

3.化學價態分辨能力：精準區分同一元素的不同價態，如Si2?/Si??；

4.物種比例定量分析：可建立自研體系數據庫，進行物種比例定量擬合；

5.支持原位測試：無需XPS的超高真空，可以在一個大氣壓下進行真正的原位測試，實時監測材料在反應過程中的化學態變化。

技術原理

X射線發射光譜儀技術特點

1.寬能量覆蓋：1.2 keV–9 keV能量范圍，滿足從Al~U的廣泛元素分析；

2.一鍵式操作流程：從測試設置到數據解析，簡化操作步驟，降低使用門檻；

3.批量處理：支持多組樣品批量檢測與標準化報告輸出。

測試數據

1.化學位移判定價態

2.低含量測試

3.價態占比分析

典型應用場景

適用樣品類型

無需復雜前處理，直接上機測試

●固體（塊、片）

●液體（溶液、乳液）

●粉末

●微量樣品（≥5 mg）

●低含量樣品（≥0.1 wt%）