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硬X射線臺式吸收精細結構譜儀（RapidXAFS）只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數據已成為了頂級期刊的“標配”，致使越來越多課題組需要XAFS測試。

X射線發射光譜儀（XEScope）是一款專業的化學態和電子軌道分析利器，專注于材料近表面中元素的價態和軌道結構解析。憑借超高靈敏度與智能化的操作流程，它將成為能源材料、催化科學、環境化學等領域研究者值得信賴的表征工具。

RapidXAFS 2D Ultra專為高效率、多元素同步分析而設計，是面向同步輻射級實驗室與工業表征的新一代XAFS系統。通過光通量、運動精度、測試模式三大核心突破，實現雙元素原位同步測試，將科研與工業檢測效率提升至全新高度。

臺式XAFS不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究。

RapidXAFS HEX射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

桌面XAFS測試對樣品無破壞，在大氣環境下測試，可進行原位測試；不受樣品狀態影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態)和氣體等。